ICP-OES法是以等離子體原子發(fā)射光譜儀為手段的分析方法,由于其具有檢出限低、準(zhǔn)確度高、線性范圍寬且多種元素同時測定等優(yōu)點(diǎn),因此,與其它分析技術(shù)如原子吸收光譜、X-射線熒光光譜等方法相比,顯示了較強(qiáng)的競爭力。在使用過程中,也需要注意很多關(guān)鍵問題,這樣才能提高實(shí)驗(yàn)效率。
①載氣流量:流量增大,中心部位溫度下降;
?、谳d氣的壓力:激發(fā)溫度隨載氣壓力的降低而增加;
③頻率和輸入功率:激發(fā)溫度隨功率增大而增高,近似線性關(guān)系,在其他條件相同時,增加頻率,放電溫度降低;
④第三元素的影響:引入低電離電位的釋放劑的等離子體,電子溫度將增加。
原子在火焰或等離子體的蒸氣相中電離而產(chǎn)生的干擾。它使火焰中分析元素的中性原子數(shù)減少,因而降低分析信號。在標(biāo)準(zhǔn)和分析試樣中加入過量的易電離元素,使火焰或等離子體中的自由電子濃度穩(wěn)定在相當(dāng)高的水平上,從而抑制或消除分析元素的電離。此外,由于溫度愈高,電離度愈大,因此,降低溫度也可減少電離干擾。:
提升率及其中元素的譜線強(qiáng)度均低于水溶液;隨著酸度增加,譜線強(qiáng)度顯著降低;各種無機(jī)酸的影響并不相同,按下列順序遞增:HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4;譜線強(qiáng)度的變化與提升率的變化成正比例。所以在ICP測試中,應(yīng)盡量的避免使用H3PO4 H2SO4作為介質(zhì)
譜線干擾;譜帶系對分析譜線的干擾;連續(xù)背景對分析譜線的干擾;雜散光引起的干擾;基體干擾;抑制干擾等。對于譜線干擾,一般選擇更換譜線,連續(xù)背景干擾一般用儀器自帶的扣背景的方法消除,基體干擾一般基體區(qū)配或標(biāo)準(zhǔn)加入法,抑制干擾一般是分離或基體區(qū)配。
在測定過程中,氣體壓力改變會影響到原子化效率和基態(tài)原子的分布;另外,毛細(xì)管阻塞、廢液排泄不暢,會使溶液提升量和霧化效率受到影響;以及電壓變化甚至環(huán)境溫度等諸多因素都會使靈敏度發(fā)生漂移,其校正方法可每測10個樣品加測一個與樣品組成接近的質(zhì)控樣,并根據(jù)所用儀器的新舊程度適當(dāng)縮短標(biāo)準(zhǔn)化的時間間隔。
測量時,不要依次測量濃度懸殊很大的樣品,可把濃度相近的樣品放在一起測定,測定樣品之間,應(yīng)用蒸餾水沖洗,進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)樣品測試標(biāo)準(zhǔn)曲線時,應(yīng)該從低標(biāo)到高標(biāo)儀次進(jìn)樣。
盡可能使各種元素迅速、完全分解;所含待測元素的量可忽略不計(jì);分解樣品時,待測元素不應(yīng)損失;與待測元素間不形成不溶性物質(zhì);測定時共存元素的影響要??;不損傷霧化器、炬管等。氫氟酸能很快的損壞霧化器、霧室和炬管。
不正確的配置方法將導(dǎo)致系統(tǒng)偏差的產(chǎn)生;介質(zhì)和酸度不合適,會產(chǎn)生沉淀和渾濁;元素分組不當(dāng),會引起元素間譜線干擾;試劑和溶劑純度不夠,會引起空白值增加、檢測限變差和誤差增大。
溶劑用高純酸或超純酸;用重蒸的離子交換水;使用光譜純、高純或基準(zhǔn)物質(zhì);把有的元素元素分成幾組配制,避免譜線干擾或形成沉淀。比如測硅時就要單獨(dú)測硅。
高頻功率一般應(yīng)高于水溶液試樣;冷卻氣流量要增高,載氣流量要減少,同時應(yīng)通入較高流量的輔助氣;對炬管的結(jié)構(gòu)和安裝也有某些特殊要求;多采用鏈狀結(jié)構(gòu)的有機(jī)溶劑作稀釋劑.
①開機(jī)測定前,必須做好安排,事先標(biāo)好各項(xiàng)準(zhǔn)備工作,切忌在同一段時間里開開停停,儀器頻繁開啟容易造成損壞,這是因?yàn)閮x器在每次開啟的時候,瞬時電流大大高于運(yùn)行正常時的電流,瞬時的脈沖沖擊,容易造成功率管燈絲斷絲,碰極短路及過早老化等,因此使用中需要倍加注意,一旦開機(jī)就一氣呵成,把要做的事做完,不要中途關(guān)停機(jī)。
②就是平時沒有樣品可測時,最好保證每周開一次機(jī),運(yùn)行半個小時到一個小時,如果一年甚至更長時間從來不開機(jī),基本上儀器就得大修。長時間沒開機(jī)時,開機(jī)前一定要檢查氣、電等是否符合相關(guān)條件。
③每次作完實(shí)驗(yàn),一定要把樣品、標(biāo)準(zhǔn)等溶液遠(yuǎn)離儀器,減少揮發(fā)對儀器的腐蝕。
④使用循環(huán)水冷的儀器,一定要用蒸餾水,防止結(jié)垢。
在日常工作中,從自動化來講,ICP-OES是最成熟的,可由技術(shù)不熟練的人員來應(yīng)用ICP-OES專家制定的方法進(jìn)行工作。分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型,每個樣品所需的時間為2或6分鐘,全譜直讀型較快,一般為2分鐘測定一個樣品。所以,對于實(shí)驗(yàn)室來說,選擇ICP-OES有利于提高實(shí)驗(yàn)室效率,在對其的維護(hù)保養(yǎng)上,希望本文能給你帶來一些幫助和參考!
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